官方微信
您当前的位置：首页 > 漏放气 速率
检测项：温度变化 检测样品：电工电子产品 标准：GB/T 2423.22-2002 IEC60068-2-14：2009 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：EVDO发射机测试 检测样品：CDMA2000通信终端 标准：1）CDMA 2000 高速率分组数据接入终端推荐的最低性能标准 (3GPP2 C.S0033-0 V1.0) (3GPP2 C.S0033-0 V2.0) (3GPP2 C.S0033-A V1.0) (3GPP2 C.S0033-A V2.0)
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：温度变化试验 检测样品：电工电子产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T2423.22-2012
机构所在地：江苏省昆山市 更多相关信息>>
检测项：部分项目 检测样品：测量、控制和实验室用电气设备 标准：测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1部分：通用要求 GB 4793.1-2007 IEC 61010-1:2010 EN 61010-1:2010
检测项：部分项目 检测样品：测量、控制和实验室用电气设备/电流钳 标准：测量、控制和实验室用电气设备的安全 电工测量和试验用手持电流钳的特殊要求 GB 4793.2-2008 IEC 61010-2-032: 2002 EN 61010-2-032: 2002
检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：频率 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
